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薄膜測厚儀是什么原理
  • 發(fā)布日期:2024-05-30      瀏覽次數(shù):317
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      薄膜測厚儀,又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等,薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

      品用途

      塑料薄膜厚度測量儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量

      符合標準

      GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

      技術指標

      測量范圍:02mm(常規(guī))

      06mm12mm(可選)

      率:0.1μm

      測量速度:10/min(可調)

      測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)

      接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)

       

       

    聯(lián)系方式
    • 電話

      17663718525

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