接觸式薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器,其測量方式是直接接觸被測薄膜表面進(jìn)行測量。
接觸式薄膜測厚儀通常采用機(jī)械或電學(xué)原理進(jìn)行測量。在機(jī)械原理中,測厚儀通過測量探針與薄膜表面的接觸壓力或位移,來計(jì)算薄膜的厚度。而在電學(xué)原理中,測厚儀則是通過測量電導(dǎo)率或電阻值的變化,來推算薄膜的厚度。
接觸式薄膜測厚儀具有以下特點(diǎn):
1. 精度高:由于直接接觸被測薄膜表面進(jìn)行測量,可以獲得較高的測量精度。
2. 對測試環(huán)境要求較低:對溫度、濕度等環(huán)境因素的要求不高,適用范圍較廣。
3. 可測量各種材料和狀態(tài)的薄膜:無論是金屬、塑料、玻璃纖維等材料,還是涂層、鍍層、復(fù)合層等狀態(tài),都可以使用接觸式薄膜測厚儀進(jìn)行測量。
4. 操作簡便:儀器結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,易于攜帶和維護(hù)。
使用接觸式薄膜測厚儀時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):
1. 在測量前需要對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. 在測量過程中,要保持探針與薄膜表面的垂直度和平行度,以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
3. 對于一些特殊材料和狀態(tài)的薄膜,可能需要采用特殊的測量方法和參數(shù)設(shè)置。
4. 在使用過程中,需要注意儀器的保養(yǎng)和維護(hù),以保證其使用壽命和精度。
總之,接觸式薄膜測厚儀是一種重要的薄膜厚度測量儀器,能夠準(zhǔn)確地測量各種材料和狀態(tài)的薄膜厚度,為產(chǎn)品的質(zhì)量控制和生產(chǎn)工藝的優(yōu)化提供保障。